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元器件二次篩選對于保障其可靠性和整機(jī)設(shè)備的穩(wěn)定性至關(guān)重要。然而，在進(jìn)行二次篩選時，需特別注意篩選的適用范圍和方案設(shè)計(jì)。不合適的篩選對象和不科學(xué)的方案設(shè)計(jì)不僅會降低篩選效果，還可能對元器件的壽命和性能帶來不可逆的影響。因此，明確二次篩選的適用范圍和設(shè)計(jì)原則是關(guān)鍵。科學(xué)合理的篩選對象選取、篩選項(xiàng)目和應(yīng)力量值設(shè)置，能夠在保證篩選有效性和充分性的同時，實(shí)現(xiàn)篩選效費(fèi)比的最優(yōu)化。

二次篩選適用范圍

不適當(dāng)?shù)亩魏Y選不僅會增加企業(yè)成本，還可能影響元器件的使用可靠性，縮短其使用壽命。因此，元器件二次篩選不應(yīng)濫用或泛用，需明確其適用范圍：

1. 未進(jìn)行一次篩選：電子元器件制造廠商在出廠時未對元器件進(jìn)行一次篩選，或一次篩選過程不符合相關(guān)質(zhì)量控制要求。

2. 一次篩選質(zhì)量不達(dá)標(biāo)：一次篩選由于工藝或水平限制，未能滿足用戶方的質(zhì)量需求。

3. 質(zhì)量疑慮：用戶方對一次篩選結(jié)果存在疑慮，需進(jìn)一步確保質(zhì)量時。

4. 方案設(shè)計(jì)不滿足要求：一次篩選方案設(shè)計(jì)無法滿足用戶方對元器件的質(zhì)量要求時。

二次篩選試驗(yàn)項(xiàng)目選取

元器件二次篩選試驗(yàn)項(xiàng)目的選取應(yīng)根據(jù)元器件種類、生產(chǎn)制造工藝、應(yīng)用環(huán)境和可靠性要求的不同，制定相應(yīng)的篩選試驗(yàn)項(xiàng)目，確保其針對性和有效性。試驗(yàn)項(xiàng)目的選取受到使用方主觀因素的影響，因此，明確各篩選試驗(yàn)的篩選機(jī)理和功能測試方向是科學(xué)合理實(shí)現(xiàn)二次篩選項(xiàng)目選取的重要環(huán)節(jié)。

二次篩選可根據(jù)篩選性質(zhì)大致分為以下幾類：

1. 檢查篩選：通過目檢、鏡檢或超聲波、X射線等方法檢測元器件表面及內(nèi)部結(jié)構(gòu)。超聲波主要識別有機(jī)環(huán)氧封裝材料內(nèi)部的裂紋、空洞和分層等缺陷，X射線側(cè)重檢測管殼中外來物或內(nèi)部芯片、鍵合和封裝等質(zhì)量缺陷。  

2. 密封性篩選：將元器件放置于不同沸點(diǎn)的液體或示蹤氣體中，觀察氣體逸出情況，分析判斷元器件外部結(jié)構(gòu)的密封性能，檢測管殼和密封缺陷，剔除存在裂紋、漏孔等質(zhì)量缺陷的元器件。

3. 環(huán)境應(yīng)力篩選：利用環(huán)境因素如沖擊力、加速力、振動力、溫度、離心力和熱沖擊等測試元器件結(jié)構(gòu)強(qiáng)度，觀察其在外部應(yīng)力作用下是否發(fā)生形變或產(chǎn)生裂紋，剔除結(jié)構(gòu)強(qiáng)度降低、抗環(huán)境應(yīng)力差的元器件。

4. 壽命篩選：在元器件早期階段施加電應(yīng)力和熱應(yīng)力，加速暴露擊穿、腐蝕、斷裂、電遷移、氧化和擴(kuò)散等缺陷，剔除存在缺陷或性能不符合標(biāo)準(zhǔn)的元器件。

二次篩選應(yīng)力量值設(shè)置

在二次篩選過程中，應(yīng)力量值的設(shè)置至關(guān)重要。過高的篩選應(yīng)力會增加篩選成本并可能導(dǎo)致元器件過應(yīng)力損傷，嚴(yán)重時甚至?xí)p傷滿足可靠性要求的元器件；過低的篩選應(yīng)力則無法全面有效地剔除缺陷元器件，降低產(chǎn)品可靠性。根據(jù)工程經(jīng)驗(yàn)，二次篩選應(yīng)力量值設(shè)置應(yīng)遵循以下基本原則：

1. 激發(fā)早期失效：篩選應(yīng)力類型應(yīng)選擇能激發(fā)早期失效的應(yīng)力，根據(jù)不同器件掌握的信息及失效機(jī)理確定。

2. 盡快暴露隱患：篩選應(yīng)力量值應(yīng)以激發(fā)早期失效為宗旨，使器件各種隱患和缺陷盡快暴露。

3. 保護(hù)正常器件：篩選應(yīng)力量值不應(yīng)使正常器件失效。

4. 無殘余應(yīng)力：篩選應(yīng)力撤去后，不應(yīng)使器件留下殘余應(yīng)力或影響其使用壽命。

上述原則在不同整機(jī)設(shè)備的元器件篩選項(xiàng)目上應(yīng)用時，需根據(jù)具體情況確定各試驗(yàn)項(xiàng)目的應(yīng)力量值設(shè)置。這一過程需要在掌握元器件失效模式、失效機(jī)理和失效分布規(guī)律的基礎(chǔ)上，通過大量摸底試驗(yàn)確定。雖然這一過程耗費(fèi)大量人力物力增加企業(yè)成本，但可以通過恒定應(yīng)力或步進(jìn)應(yīng)力加速試驗(yàn)法，加速暴露缺陷，在較短時間內(nèi)獲得加速應(yīng)力下的試驗(yàn)數(shù)據(jù)，然后運(yùn)用數(shù)學(xué)模型推算得出理想應(yīng)力量值。

通過科學(xué)合理的二次篩選對象選取、篩選項(xiàng)目設(shè)置及應(yīng)力量值設(shè)置，能夠在保障篩選有效性和充分性的同時，實(shí)現(xiàn)篩選效費(fèi)比的最優(yōu)化，確保元器件和整機(jī)設(shè)備的高可靠性。