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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間：2023-03-27 瀏覽數(shù)量：
電子元器件二次篩選是現(xiàn)行軍用電子元器件質(zhì)量與可靠性管控的重要環(huán)節(jié)，是檢驗(yàn)元器件批合格率、質(zhì)量一致性的重要手段。優(yōu)科檢測認(rèn)證是擁有CNAS、DILAC實(shí)驗(yàn)室資質(zhì)的第三方電子元器件二次篩選機(jī)構(gòu)，可提供集成電路、分立器件以及電阻電容電感元件等各類電子元器件二次篩選檢測服務(wù)，接下來為大家介紹電磁繼電器二次篩選項(xiàng)目。
電磁繼電器的篩選項(xiàng)目和應(yīng)力如下：
1. 外觀和機(jī)械檢查；
2. 掃頻振動(按GJB 65B中4.8.11.1條規(guī)定的方法)；
3. 隨機(jī)振動(按GJB 65B中4.8.11.2條或GJB 360A方法214規(guī)定的方法)；
4. 微粒碰撞噪聲檢測(PIND)(按GJB 65B中4.8.23條或GJB 360A方法217規(guī)定的方法)；
5. 內(nèi)部潮濕(按GJB 65B中4.8.3.1條規(guī)定的方法)；
6. 高溫運(yùn)行(按GJB 65B中4.8.3.2a條規(guī)定的方法)；
7. 低溫運(yùn)行(按GJB 65B中4.8.3.2b條規(guī)定的方法)；
8. 參數(shù)測試(絕緣電阻、介質(zhì)耐電壓、觸點(diǎn)接觸電阻、動作、保持和釋放電壓值、線圈
電阻、動作和釋放時間)(按GJB 65B規(guī)定的方法測試)；
9. 密封試驗(yàn)(適用用于密封繼電器，試驗(yàn)方法： GJB 65B中4.8.5條規(guī)定的方法)。
1. 收樣、標(biāo)識、入庫、入系統(tǒng)；
2. 目檢；
3. 電參數(shù)測試：按照產(chǎn)品規(guī)格書電性能或電氣性能測試；
4. 老練篩選：高溫、反偏、功率等；
5. 環(huán)境應(yīng)力測試：振動、沖擊、離心加速度、溫度循環(huán)；
6. 密封性檢查：粗細(xì)檢漏、PIND；
7. 三溫電參數(shù)測試：按照產(chǎn)品規(guī)格書電性能或電氣性能測試
6. 打點(diǎn)、封裝、出庫。
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