文章來(lái)源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間：2023-05-18 瀏覽數(shù)量：
（Highly Accelerated Temperature And Humidity Stress Testing）即高加速應(yīng)力測(cè)試。通過(guò)對(duì)樣品施加高溫高濕以及高壓的方式，實(shí)現(xiàn)對(duì)產(chǎn)品加速老化的一種試驗(yàn)方法。廣泛用于PCB、IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗(yàn)，用于評(píng)估產(chǎn)品密封性、吸濕性及老化性能。
HAST是針對(duì)非氣密性封裝器件，主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度，濕度，壓力的各種條件來(lái)完成，這些條件加速了水分穿透外部保護(hù)性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。
相比于傳統(tǒng)的高溫高濕測(cè)試，如85°C/85％RH，HAST增加了容器內(nèi)的壓力，使得設(shè)備可以實(shí)現(xiàn)超過(guò)100℃條件下的溫濕度控制，能夠加速溫濕度的老化效果（如遷移，腐蝕，絕緣劣化，材料老化等），大大縮短可靠性評(píng)估的測(cè)試周期，節(jié)約時(shí)間成本。現(xiàn)在，HAST高加速老化測(cè)試已成為某些行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)，特別是在PCB、半導(dǎo)體、太陽(yáng)能、顯示面板等產(chǎn)品中，作為標(biāo)準(zhǔn)高溫高濕測(cè)試（如85C/85%RH-1000小時(shí)）的快速有效替代方案。
- GB/T 2423.40 未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
- IEC 60068-2-66
- JESD22-A110D
- AEC-Q101
- JIS C0096-2
其中：
1. GB/T 2423.40里面詳細(xì)闡述了對(duì)進(jìn)行HAST試驗(yàn)的試驗(yàn)箱的具體要求,如升降溫的時(shí)間、試驗(yàn)箱對(duì)溫濕度的精度控制要求等。
2. JSD22-A110D詳細(xì)闡述了HAST試驗(yàn)的方法，如建議的試驗(yàn)條件(如130°C85%RH)、產(chǎn)品Bias如何施加等，另外也對(duì)HAST的失效機(jī)理進(jìn)行了說(shuō)明。
3. AEC-Q101明確了汽車電子行業(yè)對(duì)HAST的具體要求。
優(yōu)科檢測(cè)是專業(yè)第三方環(huán)境與可靠性檢測(cè)機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室具備GB/T 2423.40、IEC 60068-2-66等標(biāo)準(zhǔn)CNAS檢測(cè)資質(zhì)和檢測(cè)能力，可提供電工電子及電子元器件產(chǎn)品HAST高加速老化測(cè)試服務(wù)，并可出具權(quán)威認(rèn)可的第三方檢測(cè)報(bào)告。
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