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文章來源 : 廣東優科檢測 發表時間：2023-11-13 瀏覽數量：
元器件二次篩選是為剔除早期失效的元器件而進行的可靠性無損試驗，為提高元器件的批可靠性，元器件使用方或其委托單位在承制方篩選的基礎上需要進行二次篩選。
優科檢測是專業第三方電子元器件二次篩選機構，實驗室具備場效應晶體管CNAS檢測資質和檢測能力，可提供場效應晶體管二次篩選服務。
GJB 33A-1997 《半導體分立器件總規范》
GJB 128A-1997 《半導體分立器件試驗方法》
GB/T 4586-1994 《半導體器件 第 8 部分 場效應晶體管》
1. 內部目檢；
2. 溫度循環；
3. 恒定加速度；
4. PIND；
5. 編序列號；
6. 初始電參數測試；
7. 老練；
8. 終點電參數測試；
9. 計算變化量；
10. 計算PD；
11. PDA；
12. 密封試驗（細檢漏、粗檢漏）；
13. X射線照相檢驗；
14. 外觀檢查。
1. 柵源短路時柵極漏電流Igss
2. 漏極電流Id（on）
3. 漏-源短路漏極電流Idss
4. 漏-源擊穿電壓Bydss
5. 柵極閾值電壓Vgs （th）
6. 正向跨導ggs（Vgs）
7. 靜態漏-源通態電阻Rds（on）
1. 收樣、標識、入庫、入系統；
2. 目檢；
3. 電參數測試：按照產品規格書電性能或電氣性能測試；
4. 老練篩選：高溫、反偏、功率等；
5. 環境應力測試：振動、沖擊、離心加速度、溫度循環；
6. 密封性檢查：粗細檢漏、PIND；
7. 三溫電參數測試：按照產品規格書電性能或電氣性能測試
6. 打點、封裝、出庫。
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