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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間：2019-04-24 瀏覽數(shù)量：
廣東優(yōu)科檢測是已獲得CNAS和CMA資質(zhì)認可的第三方檢測機構(gòu)，自有獨立檢測實驗室，可提供電子連接器低階接觸阻抗測試等可靠性測試服務。接下來為大家介紹電子連接器低階接觸阻抗測試程序。
1. 電子連接器低階接觸阻抗簡介
電子連接器低階接觸阻抗(low level contact resistance)是電性量測中最重要的一項參數(shù)。一般要了解電子連接器接觸點的穩(wěn)定性是否正常，有二項參數(shù)最為重要，即為「正向力」與「低階接觸阻抗」的關(guān)系，上期已介紹了正向力，本期繼續(xù)介紹低階接觸阻抗，一般鍍金連接器的接觸阻抗值約為10毫歐姆(mΩ)附近。
2. 目標
測試目標在于詳述測試成對接點因絕緣膜可能存在，不致發(fā)生崩潰或急速熔化的電阻的標準片法。
圖1
3. 試件的準備
3.1 試件必須為配對的接點如插頭和插座接點，成對的公母接點，或印刷路板和與之配對的接點。
3.2 接點應如圖2A以指定規(guī)格的導線連接。成對接點間之連接應如圖2B所示。
3.3 試件可以裝設(shè)于合適的連接器中并使之工作如同于一般狀態(tài)。若試件不裝設(shè)于連接器中，則不應以任何會干擾此配對接點施力介面的方式來固定試件。
圖2A
4. 測試方法
4.1 測試設(shè)備
測試設(shè)備應由下述各項所構(gòu)成﹕
4.1.1 適當量測量范圍之微電壓表，經(jīng)校正的準確度為±2%滿刻度或±10%實際讀數(shù)的最小值。
4.1.2 能驅(qū)動并準確地量測最大100mA電流和最大20mV(峰值)開路電壓的低壓的低階電路。圖1顯示一可接受的電路(此電路能驅(qū)動1mA電流)。在執(zhí)行交流量測時，頻率不得超過2KHz。
4.1.3 量測以直流或交流方式執(zhí)行之。然而，在爭議之情況下應以直流方式量測。
4.2 測試程序
4.2.1 將試件連接于T1和T2之間。
4.2.2 順向貫注功率予測試電路。記錄包括極性的順向電壓降V f和順向電流If。
4.2.3 逆向貫注功率予測試電路。記錄包括極性的逆向電壓V r和逆向電流I r。
4.2.4 接觸阻抗應為順向壓降和逆向壓降的代數(shù)差的絕對值除以順逆向電流絕對值的和。如下述公式所述﹕
R=∣V f-V r∣/∣I f + I r∣
其中，R=接觸阻抗(Ω)
V f=含極性之順向壓降(V)
V r=含極性之逆向壓降(V)
I f=順向電流(A)
I r=逆向電流(A)
4.2.5 警告
4.2.5.1 試件在測試前和測試中不得施加超過20mV以上的電壓。
4.2.5.2 測試回路的總電阻(包含接點和流電阻)必須小于100mΩ。
4.2.5.3 接點在預調(diào)或環(huán)境曝露之間以及完成低階接觸阻抗測試之前，都不應受到物理性的干擾。
5. 應記錄的細節(jié)
當測試以詳細規(guī)格所具體指定，如下述的細節(jié)應予以列入：
a)測試的試件數(shù)目。
b)導線的型式和尺寸。
c)電阻需求。
d)Y-Y尺寸(參考圖2A)
6. 文件數(shù)據(jù)資料應包括：
a) 測試標題。
b) 試件描述。
c) 使用的測試設(shè)備。
d) 測試程序。
e) 測試值和觀察心得。
f) 測試資料和操作者姓名。
g) 取樣計算。
以上就是關(guān)于電子連接器低階接觸阻抗測試程序的介紹，如果您有電子連接器產(chǎn)品需要做可靠性測試，或辦理UL認證、TUV認證，歡迎聯(lián)系廣東優(yōu)科檢測工程師！
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